葉面積測量儀YMJ-B
簡要描述:葉面積測量儀YMJ-B功能特點: 1.主機、探頭一體化設(shè)計,更方便操作 2.采用微電腦技術(shù),LCD液晶顯示 3.高性能充電鋰電池,無需外部供電,低電壓顯示,更于野外測量 4.一次性可測量較大葉片面積(2000mm×213mm)
產(chǎn)品型號: YMJ-B
所屬分類:
更新時間:2024-10-09
廠商性質(zhì):其他
品牌 | 其他品牌 |
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葉面積測量儀YMJ-B
功能特點:
1.主機、探頭一體化設(shè)計,更方便操作
2.采用微電腦技術(shù),LCD液晶顯示
3.高性能充電鋰電池,無需外部供電,低電壓顯示,更于野外測量
4.一次性可測量較大葉片面積(2000mm×213mm)
▲5.可存儲5000組數(shù)據(jù)(葉面積、葉長、葉寬)
6.可測量葉片的多種參數(shù):葉面積、平均葉面積、葉長、葉寬、長寬比
▲7.儀器內(nèi)部自帶時間,日期功能,可隨時測量數(shù)據(jù)保存測量時間,利于查詢。
8.可在主機上查詢歷史數(shù)據(jù)。
▲9.通訊接口:USB接口,可將數(shù)據(jù)導(dǎo)入計算機。
1、可將存儲記錄的數(shù)據(jù)已EXCEL格式備份保存,用以查看分析。
2、數(shù)據(jù)報表、圖形報表均可選擇時段進行查詢查看,并可通過計算機打印。
3、圖形可進行放大、縮小操作,并可進行平均值計算,也可導(dǎo)成BMP格式進行保存。
葉面積測量儀YMJ-B技術(shù)參數(shù):
▲測量參數(shù):葉面積、平均葉面積、葉長、葉寬、長寬比
測量單位:毫米,平方毫米
▲測量精度:±2%
測量精度:0.1mm
▲大測量長度:2000mm
大測量寬度:213mm
大測量厚度:3mm
主機數(shù)據(jù)存儲:5000組
電壓:3.7V
產(chǎn)品名稱:差示掃描量熱儀 產(chǎn)品型號: DSC-50 |
差示掃描量熱儀 DSC-5 0
產(chǎn)品介紹:
差示掃描量熱儀為觸摸屏式,可進行玻璃化轉(zhuǎn)變溫度測試、相轉(zhuǎn)變測試、熔融和熱焓值測試、產(chǎn)品穩(wěn)定性、氧化誘導(dǎo)期測試。
符合標(biāo)準(zhǔn):
GB/T 19466. – 004/ISO 11357- :1999 第 部分:玻璃化轉(zhuǎn)變溫度的測定
GB/T 19466.3– 004/ISO 11357-3:1999 第 3 部分:熔融和結(jié)晶溫度及熱焓的測定
GB/T 19466.6- 009/ISO 11357-3:1999 第 6 部分:氧化誘導(dǎo)時間和氧化誘導(dǎo)溫度的測定
技術(shù)參數(shù):
1. 溫度范圍: 室溫~500℃
2 . 溫度分辨率: 0.01℃
3. 溫度波動: ±0.1℃
4. 溫度重復(fù)性: ±0.1℃
5. 升溫速率: 0.1~100℃/min
6. 恒溫時間:建議< 4h
7. 控溫方式:升溫,恒溫(全自動程序控制)
8. DSC 量程: 0~±600mW
9. DSC 解析度: 0.01mW
10. DSC 靈敏度: 0.01mW
11. 工作電源: AC 0V/50Hz 或定制
12. 氣氛控制氣體:氮氣、氧氣(儀器自動切換)
13. 氣體流量:0-300mL/min
14. 氣體壓力:0. MPa
15. 顯示方式: 4bit 色,8 寸 LCD 觸摸屏顯示
16. 數(shù)據(jù)接口:標(biāo)準(zhǔn) USB 接口
17. 參數(shù)標(biāo)準(zhǔn): 配有標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)(銦,錫,鋅),用戶可自行校正溫度
技術(shù)特點:
1. 工業(yè)級別的 8 寸觸摸屏,顯示信息豐富。
. 可拆卸內(nèi)置爐體設(shè)計,模塊化設(shè)計,改善了安裝工藝,用戶可自行更換爐體。
3. USB 通訊接口,通用性強,通信可靠不中斷,支持自恢復(fù)連接功能。
4. 標(biāo)配雙溫度探頭,保證樣品溫度測量的高度重復(fù)性。
5. 自動切換兩路氣氛流量,切換速度快,穩(wěn)定時間短。同時增加一路保護氣體輸入。
6. 軟件簡單易操作。
產(chǎn)品名稱:平面光帶檢測儀 平面光帶檢測儀 產(chǎn)品型號:JC-008 |
平面光帶檢測儀 平面光帶檢測儀 型號:JC-008
用途:
機械密封件、光學(xué)零件、高級平臺、平板、導(dǎo)軌等高精度平面零件的平面檢測。
功率:20W 電源:220V/50Hz 燈源照射
平面平晶規(guī)格φ60*20mm φ80*20mm φ100*25mm
φ150mm以上屬非標(biāo)立品需訂做
平面平晶產(chǎn)品特點
*平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ),利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來
測量被測量面的平面度。
*平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度。亦可用于檢定
高精度的平面零件,例如,平面光學(xué)零件、高級平臺、平板、導(dǎo)軌、密封件等。平面平晶特別于
計量單位、實驗室作為標(biāo)準(zhǔn)平面和樣板。
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